产品简介：TFMS-IV系列紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息

产品简介：SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量

产品简介：EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理，结合的频率测量技术，进行膜厚的在线监测

产品简介：ComBi-D3涂镀层测厚仪可以测试所有的非磁性涂层如人工合成（绝缘）材料，漆、瓷釉、铜、铬、铝等

产品简介：TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析

产品简介：TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪，可快速精确地测量透明或半透明薄膜的厚度，其测量膜厚范围为15nm-50um，仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm